Für die Messung von Aniloxwalzen

Flexodruck: Sibress vertreibt das Mess-Mikroskop Veritas

Nahansicht des Veritas Messmikroskops.
Nahansicht des Veritas Messmikroskops.(Bild: Sibress)

Sibress, Hersteller von Mess- und Analysesystemen zur Qualitätssicherung im Flexo- und Verpackungsdruck aus Starnberg bei München, hat jetzt zusätzlich zu den eigenentwickelten Produkten den Vertrieb des Messmikroskops Veritas der US-Firma MicroDynamics übernommen. Die entsprechende Distributionsvereinbarung wurde für den gesamten europäischen Raum sowie angrenzende Länder getroffen. Sibress hat bereits seit 2011 das Weißlicht-Interferometer MD3Dqc im Vertrieb.

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Die technologische Besonderheit des neu entwickelten Systems liegt in seiner Anwendungsvielfalt und Präzision. So wird bei der Ermittlung der Messergebnisse Weißlicht-Interferometrie eingesetzt. Dieses Verfahren nutzt die Interferenz eines breitbandigen Lichts als Referenz zur Abtastung des Objektes. Das Mikroskopsystem erlaubt eine Auflösung von bis zu 0,25 µm.

Die für das System entwickelten 10x- und 20x-Mikroskopoptiken von Nikon decken den Lineaturbereich zwischen 25 und 800 L/cm (60–2.000 lpi) ab. Besonderes Augenmerk wurde bei der Neuentwicklung auf eine anwenderfreundliche Benutzeroberfläche gelegt. Die intuitive Bedienerführung der Software ermöglicht dem Anwender, die Oberfläche von Aniloxzylindern ohne Vorkenntnisse zu analysieren.

Vollautomatische Analyse in zwei Schritten

Nach dem Aufsetzen des Veritas Mikroskops beträgt die typische Zeit vom Scan-Start bis zur Auswertung aller erfassten Daten inkl. 3D-Bild weniger als 10 Sekunden. Einmalige Fokussierung der Oberfläche ermöglicht es, bei weiteren Messungen die Fokusschärfe automatisch zu finden. In der Auswertung werden alle relevanten Daten, wie zum Beispiel Zelltiefe, Volumen, Winkel, Oberflächenbeschaffenheit/-rauheit, Wandstärke, Öffnungswinkel und vieles mehr angezeigt.

Nach der Auswertung stehen sowohl die Messwerte als auch das 3D-Bild der Messung imn einem Protokoll für die Speicherung oder den Ausdruck bereit. So lassen sich Einzelmessungen durchführen oder mit der integrierten Abweichungsanalyse zwei Messungen vergleichen. Des Weiteren lassen sich Protokolle in einer Datenbank ablegen, um Messergebnisse unterschiedlicher Perioden zu vergleichen.

Das Messsystem wird kalibriert geliefert. Bei Bedarf kann eine von MicroDynamics zertifizierte Kalibrationswalze erworben werden, die als Referenz zur Überprüfung des Systems dient. Das System läuft unter Windows 10 Professional und nutzt USB 3 für den Datentransfer. Das Veritas Messsystem wird erstmalig auf der Labelexpo Europe in Brüssel auf dem Stand von Sibress in Halle 3, Stand 3A27, vorgeführt.